日本东京测量技术展览会

展会介绍

日本东京测量技术展览会IIFES是一个专门展示测量技术和设备的国际展览会，每年在东京举办。该展览会汇聚了来自全球各地的测量技术和设备制造商和供应商，展示最新的测量技术、设备和材料，为展商和参观者提供了一个交流和学习的平台。

IIFES展览会主要展示各种测量技术和设备，包括长度测量、角度测量、温度测量、压力测量、流量测量、振动测量、声波测量等。此外，还有各种与测量相关的研讨会和讲座，让参展商和参观者能够深入了解测量技术行业的趋势和发展。

IIFES展览会是一个了解最新测量技术和设备产品和趋势的重要平台，也是一个寻找测量合作伙伴和拓展市场的重要机会。如果您是从事测量技术行业或者对此感兴趣，IIFES展览会是一个值得参观的展览会。

展会范围

相关展品: 测地学，地质信息系统，测地数据，绘图法，摄影测量法，地质学，CAD，GPS，GIS , Geospatial, 附件，遥感和摄影测量的软硬件产品及技术，测量仪器及其相关配套产品，无人机及其配件等